你的位置:首頁 > 電路保護(hù) > 正文

迎刃而解——華大九天Polas利器應(yīng)對功率設(shè)計挑戰(zhàn)

發(fā)布時間:2025-02-13 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】電源管理集成電路(PMIC)設(shè)計涉及電源轉(zhuǎn)換、電壓調(diào)節(jié)、電流管理等核心領(lǐng)域。隨著技術(shù)節(jié)點的演進(jìn),功率器件面臨著更大的電壓差、更高的電流密度以及更為嚴(yán)苛的功率/熱耗散要求;金屬互聯(lián)層的電阻在整體導(dǎo)通電阻中的占比越來越大;異形大金屬圖層以及功率器件拆分方式對參數(shù)提取的準(zhǔn)確性造成了影響;封裝對芯片內(nèi)電氣特性的影響亦愈發(fā)顯著。這些因素共同對功率設(shè)計在電遷移(EM)、熱性能(Thermal)和導(dǎo)通電阻(RDSon)等可靠性方面帶來了新的挑戰(zhàn)。此外,如何高效地驅(qū)動具有較大有效柵極寬度的PowerMOS,以及如何防止上下管開關(guān)切換過程中的穿通漏電現(xiàn)象,也成為功率設(shè)計領(lǐng)域的核心難題。


電源管理集成電路(PMIC)設(shè)計涉及電源轉(zhuǎn)換、電壓調(diào)節(jié)、電流管理等核心領(lǐng)域。隨著技術(shù)節(jié)點的演進(jìn),功率器件面臨著更大的電壓差、更高的電流密度以及更為嚴(yán)苛的功率/熱耗散要求;金屬互聯(lián)層的電阻在整體導(dǎo)通電阻中的占比越來越大;異形大金屬圖層以及功率器件拆分方式對參數(shù)提取的準(zhǔn)確性造成了影響;封裝對芯片內(nèi)電氣特性的影響亦愈發(fā)顯著。這些因素共同對功率設(shè)計在電遷移(EM)、熱性能(Thermal)和導(dǎo)通電阻(RDSon)等可靠性方面帶來了新的挑戰(zhàn)。此外,如何高效地驅(qū)動具有較大有效柵極寬度的PowerMOS,以及如何防止上下管開關(guān)切換過程中的穿通漏電現(xiàn)象,也成為功率設(shè)計領(lǐng)域的核心難題。


Empyrean Polas?解決方案


迎刃而解——華大九天Polas利器應(yīng)對功率設(shè)計挑戰(zhàn)


華大九天推出的Empyrean Polas?工具,憑借其先進(jìn)的3D場求解器提取算法,成功突破了傳統(tǒng)RC參數(shù)提取方法的瓶頸,特別是在處理PMIC設(shè)計中的電源版圖特殊形狀和大面積圖形時,工具展現(xiàn)出卓越的質(zhì)量和性能。依托其高精度的提取結(jié)果,Polas能夠精準(zhǔn)執(zhí)行電源路徑的EMIR和RDSon仿真分析。此外,Polas還支持針對電源分配網(wǎng)絡(luò)(PDN)及關(guān)鍵信號路徑全面分析,包括PDNEMIR/RMAP/P2PEM/P2PR等,覆蓋了物理和電氣特性,有助于用戶深入理解物理設(shè)計,優(yōu)化設(shè)計流程,提升產(chǎn)品性能和可靠性。針對動態(tài)場景的需求,Polas提供了一套全面的分析功能體系。其中,Gate Delay分析能夠精確監(jiān)測到PowerMOS管的開啟延遲分布;CrossMonitor分析則專注于解決上下管切換時可能出現(xiàn)的穿通漏電問題,為用戶提供了優(yōu)化PowerMOS管開關(guān)時序,解決相關(guān)問題的有力工具。作為一站式解決方案,Polas不僅能夠有效提升設(shè)計質(zhì)量,還有效避免因設(shè)計缺陷導(dǎo)致的返工問題,從而節(jié)省用戶的寶貴時間和成本。


PowerMOS EMIR/RDSon應(yīng)用


EMIR分析涵蓋了電遷移(Electromigration)和IR降壓(Voltage Drop)兩大關(guān)鍵領(lǐng)域,旨在評估電路中電流密度及電壓降對互連可靠性的影響。RDSon分析則專注于功率電子器件的導(dǎo)通電阻,尤其是涉及BCD和氮化鎵(GaN)等功率器件,導(dǎo)通電阻是衡量功率器件效率和性能的核心指標(biāo)。


美國芯源系統(tǒng)有限公司(Monolithic Power Systems, Inc.,簡稱MPS)是一家全球知名的高性能模擬和混合信號半導(dǎo)體企業(yè)。在其產(chǎn)品開發(fā)流程中,Polas工具已被廣泛應(yīng)用于實際項目中。通過EMIR和RDSon分析,Polas能夠精準(zhǔn)識別金屬層(Metal layer)中電流密度過高的薄弱環(huán)節(jié),協(xié)助用戶對版圖進(jìn)行優(yōu)化,從而有效降低RDSon導(dǎo)通電阻,提升功率器件的工作效率。通過與硅片實測(SILICON)結(jié)果的對比分析,Polas工具的分析精度和優(yōu)化效果得到了充分驗證。


迎刃而解——華大九天Polas利器應(yīng)對功率設(shè)計挑戰(zhàn)


納芯微電子(NOVOSENSE Microelectronics)是一家高性能高可靠性模擬及混合信號芯片公司。公司采用Polas工具對模擬芯片設(shè)計進(jìn)行了RDSon分析,并結(jié)合完整的封裝級仿真,一方面獲取與實測結(jié)果高度匹配的仿真數(shù)據(jù),另一方面為Pillar、RDL及PCB設(shè)計提供了指導(dǎo),優(yōu)化了PCB走線電阻和芯片內(nèi)部走線電阻。


迎刃而解——華大九天Polas利器應(yīng)對功率設(shè)計挑戰(zhàn)


Resistance MAP應(yīng)用 


在電源網(wǎng)絡(luò)設(shè)計領(lǐng)域,備受關(guān)注的IR-drop問題、電流密度(CD)等關(guān)鍵指標(biāo)都與電源網(wǎng)絡(luò)的電阻特性密切相關(guān)。RMAP分析通過深入探究電阻的物理特性,細(xì)致分析當(dāng)前電源網(wǎng)絡(luò)中的電阻分布,為用戶提供了版圖檢查和優(yōu)化的有力工具。


臺灣Ekepower公司在其時鐘生成電路設(shè)計流程中引入了Polas工具,通過運用RMAP分析,便捷且迅速地洞察電源網(wǎng)絡(luò)的電阻分布圖。這不僅有助于用戶對電源網(wǎng)絡(luò)的物理布局進(jìn)行全面審視,還能幫助用戶精準(zhǔn)定位阻抗瓶頸點。


迎刃而解——華大九天Polas利器應(yīng)對功率設(shè)計挑戰(zhàn)


PowerMOS上下管切換導(dǎo)通電流檢查 


PowerMOS場效應(yīng)晶體管通過控制柵極電壓來調(diào)節(jié)源極和漏極之間的電流,從而實現(xiàn)開關(guān)功能。在其上下管切換過程中,需要特別關(guān)注存在導(dǎo)通電流的情況。因為一旦上下管同時處于導(dǎo)通狀態(tài),可能會引起電源短路,嚴(yán)重?fù)p壞MOS管本身,還可能對整個電源系統(tǒng)造成破壞性影響。


一家致力于Audio Power設(shè)計的臺灣PMIC公司,使用Polas工具中的Cross Monitor分析功能,對死區(qū)時間設(shè)計進(jìn)行了細(xì)致的合理性檢驗。該功能通過監(jiān)控PowerMOS上下管在高低導(dǎo)通狀態(tài)切換過程中的電流變化,能夠判斷設(shè)計中的死區(qū)時間設(shè)置是否得當(dāng)。這項分析為用戶提供了至關(guān)重要的反饋信息,指導(dǎo)他們對Power IC設(shè)計進(jìn)行優(yōu)化,從而提高了產(chǎn)品的可靠性和工作效率。


迎刃而解——華大九天Polas利器應(yīng)對功率設(shè)計挑戰(zhàn)


結(jié)語 


華大九天推出的Empyrean Polas?工具是一款專為功率設(shè)計可靠性分析而設(shè)計的先進(jìn)工具。它集成了一套系統(tǒng)化的分析方案,全面覆蓋RDSon、EM/IR-drop、Power Gate Timing、RMAP、P2PR/EM以及PDN網(wǎng)絡(luò)檢查

來源:華大九天


免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請聯(lián)系小編進(jìn)行處理。


我愛方案網(wǎng)


推薦閱讀:

驅(qū)動電路設(shè)計(一)—— 驅(qū)動器的功能綜述

借助隔離式電壓檢測,實現(xiàn)功率轉(zhuǎn)換與電機控制效率飛躍

芯??萍糂MS:讓每塊電池的安全都值得信賴

安森美公布 2024 年第四季度及全年業(yè)績

無需專用隔離反饋回路的簡潔反激式控制器設(shè)計

特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉