高精度ADC信號鏈中固定頻率雜散問題分析及解決辦法
發(fā)布時(shí)間:2018-03-28 來源:Steven Xie 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】針對高分辨率、精密ADC應(yīng)用中的雜散問題,本文將介紹幾種判斷其根本原因的方法,并提出相應(yīng)的解決方案。這些技術(shù)和方法將有助于提高終端系統(tǒng)的EMC能力和可靠性。
簡介
雖然目前的高分辨率SAR ADC和Σ-Δ ADC可提供高分辨率和低噪聲,但系統(tǒng)設(shè)計(jì)師們可能難以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)手冊上的額定SNR性能。而要達(dá)到最佳SFDR,也就是在系統(tǒng)信號鏈中實(shí)現(xiàn)無雜散的干凈噪底,可能就更加困難了。雜散信號可能源于ADC周圍的不合理電路,也有可能是因惡劣工作環(huán)境下出現(xiàn)的外部干擾而導(dǎo)致。
針對高分辨率、精密ADC應(yīng)用中的雜散問題,本文將介紹幾種判斷其根本原因的方法,并提出相應(yīng)的解決方案。這些技術(shù)和方法將有助于提高終端系統(tǒng)的EMC能力和可靠性。
本文將針對五種不同的應(yīng)用情況闡述用于降低雜散的特定設(shè)計(jì)解決方案:
1.由控制器板上的DC-DC電源輻射而導(dǎo)致的雜散問題。
2.由AC-DC適配器噪聲通過外部基準(zhǔn)源而導(dǎo)致的雜散問題。
3.由模擬輸入電纜而導(dǎo)致的雜散問題。
4.由模擬輸入電纜上的耦合干擾而導(dǎo)致的雜散問題。
5.由室內(nèi)照明設(shè)備導(dǎo)致的雜散問題。
雜散與SFDR
眾所周知,無雜散動態(tài)范圍(SFDR)表示可從大干擾信號分辨出的最小功率信號。對于目前的高分辨率、精密ADC,SFDR一般主要由基波頻率與目標(biāo)基波頻率的第二或第三諧波之間的動態(tài)范圍構(gòu)成。然而,由于系統(tǒng)其他方面的因素,可能會導(dǎo)致雜散產(chǎn)生并限制系統(tǒng)的性能。
這些雜散可分為輸入頻率相關(guān)雜散和固定頻率雜散。輸入頻率相關(guān)雜散與諧波或非線性特性有關(guān)。本文將重點(diǎn)分析由電源、外部基準(zhǔn)源、數(shù)字連接、外部干擾等造成的固定頻率雜散。根據(jù)應(yīng)用情況,可降低或完全避免這些類型的雜散,以助于實(shí)現(xiàn)最佳的信號鏈性能。 由ADC周圍DC-DC電源而導(dǎo)致的雜散問題
由于DC-DC開關(guān)穩(wěn)壓器會產(chǎn)生較高的紋波噪聲,通常建議將LDO作為在精密測量系統(tǒng)中為精密ADC生成低噪聲電源軌的解決方案。固定頻率或脈寬調(diào)制開關(guān)穩(wěn)壓器會產(chǎn)生開關(guān)紋波,該紋波一般位于幾萬至幾兆赫茲固定頻率處。固定頻率噪聲可能會通過ADC的PSRR機(jī)制饋入ADC轉(zhuǎn)換代碼中。
某些設(shè)計(jì)師可能會因電路板空間有限或預(yù)算問題而在精密ADC應(yīng)用中采用DC-DC開關(guān)穩(wěn)壓器。為了實(shí)現(xiàn)理想的信號鏈性能,他們必須限制紋波噪聲或使用高PSRR ADC,以確保這些紋波噪聲低于ADC噪底。否則,在ADC輸出頻譜的開關(guān)頻率處可能會出現(xiàn)雜散,這有可能會使信號鏈的動態(tài)范圍降級。
AD7616 是一款16位數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS),支持在電力線監(jiān)控中對16個(gè)通道進(jìn)行雙路同步采樣。該器件具有很高的PSRR,將能有效地抑制/衰減開關(guān)紋波。例如,將一個(gè)在100 kHz處有100 mV峰峰值紋波噪聲的DC-DC開關(guān)電源用于AD7616,VCC為5 V,±10 V輸入范圍。
則因紋波導(dǎo)致的數(shù)字碼噪聲為:
對于一個(gè)16位轉(zhuǎn)換器而言,ADC輸出端出現(xiàn)的這種紋波電平是非常低的。ADC的高PSRR性能使得設(shè)計(jì)師們也可以在精密測量系統(tǒng)中采用開關(guān)穩(wěn)壓器。
圖1.AD7616 PSRR與紋波頻率的關(guān)系。
因DC-DC電源輻射而導(dǎo)致的雜散問題
僅僅使用高PSRR ADC并不能保證開關(guān)穩(wěn)壓器在精密測量系統(tǒng)中不會造成任何問題。開關(guān)穩(wěn)壓器產(chǎn)生的紋波噪聲可能會通過其他方式饋入ADC的數(shù)字碼中。
AD4003 是一款低噪聲、低功耗、高速、18位、2 MSPS精密逐次逼近型寄存器(SAR) ADC。在EVAL-AD4003FMCZ評估板交流性能測試過程中,在277.5 kHz附近出現(xiàn)約–115 dBFS的雜散電平;該雜散及其第二諧波如圖2所示。
圖2.EVAL-AD4003FMCZ評估板上觀察到的雜散問題。
其次,進(jìn)行測試,判斷雜散是否來自模擬輸入端。測試結(jié)果如下:
移除差分模擬輸入調(diào)理電路后,雜散降低。
在AD4003的緩沖放大器ADA4807-1前端插入一個(gè)窄帶RC濾波器(如1 kΩ,10 nF)后,雜散降低。
這些結(jié)果表明,雜散導(dǎo)致的噪聲可能會通過調(diào)理電路進(jìn)入AD4003的模擬輸入端。然后,斷開傳感器輸出,移除調(diào)理電路,僅留下VREF/2 CM電壓輸入(在ADA4807-1的同相輸入端)。但仍然存在雜散,并且具有近似的電平。
那么,懷疑干擾源有可能位于EVAL-AD4003FMCZ信號鏈周圍。為了證明此點(diǎn),在EVAL-AD4003FMCZ評估板和SDP-H1控制器板上多處放置銅箔屏蔽罩。其結(jié)果是,當(dāng)銅箔屏蔽罩覆蓋SDP-H1板上的DC-DC電源時(shí),如圖3所示,雜散就會消失。277.5 kHz雜散頻率剛好與ADP2323 穩(wěn)壓器的編程開關(guān)頻率相符。圖4顯示了EVAL-AD7616SDZ GUI FFT捕獲的3.3 V VADJ_FMC開關(guān)頻率功率。
圖3.VADJFMC電感L5被銅箔屏蔽罩覆蓋。
圖4.EVAL-AD7616SDZ GUI FFT捕獲的VADJFMC 3.3 V開關(guān)紋波。
得出的結(jié)論是,DC-DC開關(guān)頻率干擾是由8.2 µH電感L5發(fā)出的。該干擾從緩沖放大器ADA4807-1的輸入端注入信號鏈,然后進(jìn)入AD4003 ADC的模擬輸入端。
針對這種DC-DC電源轉(zhuǎn)換器導(dǎo)致的雜散問題,可行的解決方案有:
1.在AD4003 ADC前端使用一個(gè)低通濾波器,以在應(yīng)用帶寬允許的情況下,將耦合的DC-DC開關(guān)頻率干擾衰減到符合設(shè)計(jì)目標(biāo)的程度(即雜散位于噪底以下)。
2.使用L5為屏蔽電感的新型SDP-H1板(BOM版本1.4)。輻射干擾功率降低,因此AD4003 ADC頻譜中捕獲的雜散功率也低得多。
3.VADJ_FMC的電壓電平可通過EVAL-AD4003FMCZ評估板上的EEPROM進(jìn)行編程。試驗(yàn)證明,使用較低的電壓電平(如VADJ_FMC為2.5 V)也會使雜散消失。
由AC-DC適配器噪聲耦合通過外部基準(zhǔn)源而導(dǎo)致的雜散問題
ADC參考其直流基準(zhǔn)電壓電平將模擬信號量化成一個(gè)數(shù)字碼。因此,直流基準(zhǔn)電壓輸入上的噪聲將直接饋入ADC輸出的數(shù)字碼。
AD7175-2是一款低噪聲、快速建立、多路復(fù)用、2/4通道(全差分/偽差分)Σ-Δ型ADC,可用于低帶寬輸入。在EVAL-AD7175SDZ評估板的信號鏈測試中,在60 kHz附近捕獲到一簇雜散信號,如圖5所示。
圖5.EVAL-AD7175-2SDZ評估板上觀察到的雜散問題。
經(jīng)過評估發(fā)現(xiàn),AD7175-2 ADC的電源和模擬調(diào)理電路都處于良好狀態(tài)。但是,如圖6中所示,AD7175-2的5 V基準(zhǔn)電壓輸入由ADR445基準(zhǔn)源生成,該基準(zhǔn)源的9 V直流電源來自評估板外部的AC-DC適配器。接下來,使用一個(gè)工作臺9 V直流電源模塊替換該適配器。結(jié)果雜散簇消失,僅在60 kHz處留下一個(gè)窄帶雜散。
圖6.EVAL-AD7175-2SDZ評估板上觀察到雜散問題。
圖7.EVAL-AD7175-2SDZ評估板上已消除雜散簇。
以320 mA輸出電流對EVAL-AD7175-2SDZ板供電時(shí),通過EVAL-AD7616SDZ GUI FFT對9V輸出AC-DC適配器進(jìn)行測試。使用AD7616 ±10 V輸入范圍時(shí),ADR445 基準(zhǔn)源電源引腳上的開關(guān)頻率功率約為 –70 dBFS,這意味著使用AD7175-2 ±5 V輸入范圍時(shí),產(chǎn)生的噪聲具有6.325 mV峰峰值或?yàn)?ndash;64 dBFS。
圖8.EVAL-AD7616SDZ GUI FFT捕獲的3.3 V VADJFMC開關(guān)紋波。
此電源開關(guān)紋波噪聲會饋入AD7175-2 ADC,并以數(shù)字碼呈現(xiàn),存在一定程度的衰減,如下所述:
ADR445基準(zhǔn)源的數(shù)據(jù)手冊規(guī)定60 kHz處的PSRR為49 dB。
2.ADR445基準(zhǔn)源在60 kHz處的輸出阻抗約為4.2 Ω。結(jié)合4.8 µF存儲電容,可進(jìn)一步造成18 dB衰減。
3.此外,當(dāng)ODR為256 ksps時(shí),AD7175-2 ADC的數(shù)字濾波器sinc5 + sinc1在60 kHz處會增加約–3 dB衰減。
計(jì)算所得的電平為–134 dBFS,十分接近圖5中所捕獲的–130 dBFS雜散簇電平(不包括最高的窄帶雜散)。這可證實(shí),該雜散簇是由AC-DC適配器的開關(guān)紋波饋入外部基準(zhǔn)源ADR445造成的。剩下的窄帶雜散將在下一章節(jié)中予以分析。
由注入信號鏈的干擾而導(dǎo)致的雜散問題
在硬件系統(tǒng)中,從輸入傳感器到精密轉(zhuǎn)換器輸入端之間往往具有很長一段信號鏈。該信號鏈包括連接電纜、連接器、路由導(dǎo)線、調(diào)整和調(diào)理電路、ADC驅(qū)動器等等。因此,外部干擾很有可能會注入模擬輸入信號鏈并產(chǎn)生ADC雜散。 由電源電纜干擾注入信號鏈而導(dǎo)致的雜散問題
在研究EVAL-AD7175-2SDZ評估板輸出頻譜中剩下的窄帶雜散時(shí),注意到測試臺上有一臺正在工作的數(shù)字示波器。如圖9所示,該示波器的220 V交流電源電纜(黑色)與EVAL-AD7175-2SDZ評估板的模擬輸入電纜(灰色)有一部分重疊。將示波器關(guān)掉或?qū)⑵潆娫措娎|從模擬輸入電纜上移開后,60 kHz處的窄帶雜散消失,如圖10所示。
在系統(tǒng)機(jī)柜中,對傳感器至DAQ板之間的線路進(jìn)行布線時(shí)應(yīng)格外注意。將敏感的低電平模擬信號與大電流電力線隔離開來是一個(gè)良好的操作習(xí)慣。
圖9.示波器電源電纜導(dǎo)致的雜散
圖10.EVAL-AD7175-2SDZ評估板上已消除所有雜散。
由燈具輻射導(dǎo)致的雜散問題
在測試EVAL-AD7960FMCZ評估板時(shí),F(xiàn)FT頻譜上出現(xiàn)一個(gè)雜散。如圖11所示,該雜散的電平約–130 dB,位于40 kHz處。
40 kHz似乎與EVAL-AD7960FMCZ評估板及其控制器板SDP-H1上的任何信號頻率都不相關(guān)。找出雜散源的另一種方法是清理測試臺,也許是測試臺上的某些物體產(chǎn)生了外部干擾。當(dāng)關(guān)掉臺架上的日光燈后,雜散消失。此外還發(fā)現(xiàn),EVAL-AD7960FMCZ評估板離日光燈越近,40 kHz處的雜散就會越高。在緩沖放大器ADA4899-1前方插入一個(gè)額外的RC濾波器(如1 kΩ,10 nF)后,雜散降低約10 dB。這意味著,日光燈輻射干擾從緩沖放大器的同相輸入端前方進(jìn)入到信號鏈路中。 對于工作在照明環(huán)境下的系統(tǒng),在前端電路上安裝一個(gè)屏蔽罩有助于防止輻射干擾和優(yōu)化信號鏈性能。
對于工作在照明環(huán)境下的系統(tǒng),在前端電路上安裝一個(gè)屏蔽罩有助于防止輻射干擾和優(yōu)化信號鏈性能。
圖11.日光燈輻射在EVAL-AD7960FMCZ上造成的雜散
圖12.靠近EVAL-AD7960FMCZ評估板的日光燈。
由較長模擬輸入電纜導(dǎo)致的雜散問題
在EVAL-AD4003FMCZ評估板的工作過程中,使用的AP SY2712信號發(fā)生器通過一條XLR麥克風(fēng)電纜(約2米長)驅(qū)動低噪聲、低THD正弦波信號進(jìn)入模擬輸入端。在這種設(shè)置下,700 kHz處出現(xiàn)一個(gè)約–125 dB的雜散,如圖13所示。
在研究該雜散的過程中,發(fā)現(xiàn)有三種方法可解決此問題:
不用兩米長的XLR麥克風(fēng)電纜,而直接將AP平衡輸出的XLR插針與轉(zhuǎn)接板的XLR插口短接。
將信號源SY2712的輸出阻抗設(shè)置從Z-Out = 40 Ω改為Z-Out = 600 Ω。
在AD4003的緩沖放大器ADA4807-1前端向信號鏈中插入一個(gè)窄帶RC濾波器(如1 kΩ,10 nF)后,雜散降低。
最終結(jié)論是,在700 kHz處出現(xiàn)的高頻雜散是由于信號源輸出阻抗不匹配并且XLR電纜較長所導(dǎo)致。
圖13.XLR電纜在EVAL-AD4003FMCZ上造成的雜散
圖14.AP通過較長的XLR電纜驅(qū)動EVAL-AD4003FMCZ。
結(jié)論
針對系統(tǒng)應(yīng)用中高分辨率、精密ADC的雜散問題,本文探討了判斷其根本原因的方法。文中介紹了在五種不同應(yīng)用情況下消除或降低雜散的特定設(shè)計(jì)解決方案。本文還探討了相關(guān)的雜散計(jì)算方法,有助于評估雜散的功率水平(作為特定應(yīng)用的設(shè)計(jì)目標(biāo))。
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