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一種X波段非接觸式C形微帶探針設(shè)計(jì)

發(fā)布時(shí)間:2018-01-29 來(lái)源:ednchina 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】本文以X波段非接觸式探針為設(shè)計(jì)對(duì)象,參照單極子微帶天線設(shè)計(jì)方法,將50ohm微帶線延伸出去,形成C形環(huán)結(jié)構(gòu),并將這部分的地去處,達(dá)到圈住信號(hào)傳輸線周圍的磁場(chǎng)構(gòu)成磁耦合的目的。

 
為了加強(qiáng)磁耦合,在C形環(huán)附近添加去地的反向C形微帶線結(jié)構(gòu)以加強(qiáng)耦合,并調(diào)節(jié)耦合平坦度。根據(jù)仿真模型制作了實(shí)物,探針置于被測(cè)微帶傳輸線上方可獲得耦合信號(hào),在X波段范圍內(nèi),耦合量在-19~-23dB之間。
 
1引言
 
微波組件向著集成、小型化方向發(fā)展,很多組件采用裸芯片工藝進(jìn)行貼裝(比如T/R組件),常規(guī)的測(cè)試排故方法已難以滿足現(xiàn)代化測(cè)試要求,比如射頻板通過(guò)焊接半截線引出信號(hào)測(cè)試的方法,已完全不適合高集成度、高凈化度的組件測(cè)試。據(jù)此,本文開(kāi)展了X波段非接觸式射頻探針的研究工作,以利于微波組件的調(diào)試[1]。
 
 
 
信號(hào)在微帶傳輸線上傳輸時(shí),在其周圍存在閉環(huán)的磁場(chǎng),當(dāng)外部線圈或外部微帶線圈住一定磁通量時(shí),變化的磁場(chǎng)就產(chǎn)生變化的電流,進(jìn)而就可通過(guò)耦合的方式探測(cè)出信號(hào)。相比于半截線測(cè)試射頻信號(hào)時(shí),這種磁耦合方式無(wú)需額外接地。一般情況下,當(dāng)該非接觸式探針與被測(cè)對(duì)象接觸時(shí),短路危險(xiǎn)系數(shù)較低(與微帶線不直接接觸)[2]。另外,X波段信號(hào)耦合量小于-15dB時(shí),對(duì)主路信號(hào)無(wú)影響,在探測(cè)信號(hào)的同時(shí)不影響系統(tǒng)正常工作[3,4]。
 
 
本探針采用的微帶形式借鑒單極子天線設(shè)計(jì)方法,將用于探測(cè)的微帶線底部的地去掉,從而形成開(kāi)放的電磁耦合結(jié)構(gòu)。調(diào)整用于探測(cè)的微帶線的長(zhǎng)度與寬度可將空間波阻抗變換到50ohm,從而實(shí)現(xiàn)匹配。本文創(chuàng)新點(diǎn)在于采用C形環(huán)達(dá)到空間磁耦合目的,從而將近場(chǎng)能量轉(zhuǎn)化為電流,達(dá)到測(cè)試信號(hào)功率的目的。本文還有一個(gè)創(chuàng)新點(diǎn)在于采用互補(bǔ)磁耦合環(huán)結(jié)構(gòu),不僅加強(qiáng)了耦合,還可以調(diào)節(jié)耦合平坦度。該微帶探針不僅可以應(yīng)用于X波段信號(hào)探測(cè),對(duì)于其他頻段信號(hào)也可以探測(cè)(耦合度需要測(cè)試),因此該探針也能作為測(cè)試電磁泄漏的工具,在電磁空間探測(cè)領(lǐng)域具有一定的應(yīng)用價(jià)值。該探針?biāo)捎玫慕Y(jié)構(gòu)能被其他頻段射頻探針設(shè)計(jì)借鑒,是實(shí)用性很強(qiáng)的產(chǎn)品。
 
2.C形缺地微帶探針?lè)抡?/strong>
 
2.1 類單極子C形缺地探針設(shè)計(jì)
 
四分之一波長(zhǎng)單極子天線要求延伸出的輻射電長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng),其輻射場(chǎng)分為近場(chǎng)與遠(yuǎn)場(chǎng),近場(chǎng)是比較復(fù)雜的電磁耦合轉(zhuǎn)換環(huán)境。本節(jié)所設(shè)計(jì)的類單極子C形缺地探針長(zhǎng)度也為四分之一波長(zhǎng),利用近場(chǎng)的磁生電的原理進(jìn)行信號(hào)探測(cè)。其結(jié)構(gòu)圖如下圖1所示,主體由微帶50ohm饋線和C形缺地線組成:
 

圖1 C形缺地探針結(jié)構(gòu)示意圖
 
C形缺地線電長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng):
 
 
其中,c為光速,f為工作頻率,Er為相對(duì)介電常數(shù)。
 
該結(jié)構(gòu)的探針耦合度主要取決于與探測(cè)對(duì)象之間的距離以及C形環(huán)的開(kāi)口大小。注意:該探針C形環(huán)必須與所測(cè)對(duì)象平行!
 
下面仿真分析了探測(cè)對(duì)象與C形環(huán)的距離對(duì)耦合度的影響。當(dāng)C形環(huán)與背測(cè)微帶信號(hào)線平行相距1mm、1.2mm、1.4mm時(shí),其耦合度在10GHz分別達(dá)到-19.45dB、-21.74dB、-23.46dB,其仿真結(jié)果如下圖2所示:
 

(1)相距1mm
 

(2)相距1.2mm
 

(3)相距1.4mm
 
圖2探針與被測(cè)對(duì)象的不同耦合距離的仿真結(jié)果
 
仿真結(jié)果表明,當(dāng)隨著耦合間距的加大,耦合度也在減小,而且x波段耦合度不平坦,達(dá)到7dB以上的幅度波動(dòng)。由于C形環(huán)長(zhǎng)度較小,且與頻率相關(guān),因此本節(jié)不對(duì)C形環(huán)的長(zhǎng)度做相關(guān)仿真分析。
 
2.2增強(qiáng)型C型探針設(shè)計(jì)
 
由上節(jié)分析可知,C形環(huán)探測(cè)信號(hào)的耦合度受制于耦合間距。在間距達(dá)到1mm的情況下,在10GHz才達(dá)到-19.45dB。為了增強(qiáng)耦合度,本節(jié)在C形環(huán)旁邊添加了與它相反的C形環(huán),達(dá)到電磁耦合互補(bǔ),增加耦合度的作用。其結(jié)構(gòu)示意圖如下圖3所示。
 

圖3 增強(qiáng)型C形缺地探針結(jié)構(gòu)示意圖
 
添加的C形環(huán)受到相同的磁場(chǎng)耦合,產(chǎn)生與主線相反的電流,從而對(duì)主線進(jìn)行二次耦合,增強(qiáng)了主線的耦合度。仿真了1mm耦合間距的耦合度,仿真結(jié)果如下圖4所示。在10GHz耦合-18.72dB,x波段耦合度-17.25~-19.27dB,波動(dòng)2dB左右。
 

圖4 增強(qiáng)型C形缺地探針1mm耦合間距仿真結(jié)果
 
由仿真結(jié)果分析可知,添加的反向C形環(huán)不僅增加了耦合度,而且具備調(diào)節(jié)耦合平坦度的功能。
 
2.3非接觸式C形微帶探針實(shí)測(cè)
 
根據(jù)上節(jié)仿真結(jié)果制作了實(shí)物,如下圖5所示。下方微帶直通線與探針平行耦合的間距為1mm,測(cè)得X波段探針耦合度為-19dB~-23dB,與仿真值偏離不大。
 

圖5 C形微帶探針實(shí)物圖
 
3 結(jié)論
 
針對(duì)微波組件的探測(cè)需求,提出一種X波段非接觸式微帶探針結(jié)構(gòu),以便于信號(hào)檢測(cè)。本探針采用的微帶形式借鑒單極子天線設(shè)計(jì)方法,將用于探測(cè)的微帶線底部的地去掉,從而形成開(kāi)放的電磁耦合結(jié)構(gòu)。調(diào)整用于探測(cè)的微帶線的長(zhǎng)度與寬度可將空間波阻抗變換到50ohm,從而實(shí)現(xiàn)匹配。該結(jié)構(gòu)形式易于實(shí)現(xiàn),對(duì)工藝無(wú)特殊要求,可適合于微組裝產(chǎn)品的測(cè)試排故。
 
參考文獻(xiàn)
 
1、Arriola W A, et al. Wideband 3 dB branchline co upler basedon ( / 4 open circuited coupled lines [ J] . IEEE MicrowaveandWireless Component Letters, 2011, 21( 9) : 486- 488.
 
2、 Reed J.and Wheeler G..J..A method ofanalysis of symmetrical four-port networks[J].IEEE Transactions on MicrowaveTheory and Techniques,1956,50(4):246-252
 
3、Shry-Sann Liao,Pou-Tou Sun,Nien-ChungChin,and Jen-Tee Peng,“A Novel Compact-SizeBranch-LineCoupler,”IEEETrans.Microw.TheoryTech.,vol.15,no.9,pp.588–590,Sep.2005.
 
4、 陳振國(guó)等. 微波技術(shù)基礎(chǔ)與應(yīng)用. 人民郵電出版社.





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