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信號(hào)完整性系列之十四 —— 高速互聯(lián)鏈路中參考時(shí)鐘的抖動(dòng)分析與測(cè)量

發(fā)布時(shí)間:2010-05-10 來(lái)源:電子元件技術(shù)網(wǎng)

中心議題:
  • 時(shí)鐘抖動(dòng)及測(cè)試方法的介紹和探討
  • 時(shí)鐘抖動(dòng)的分解
  • 時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試注意事項(xiàng)

摘要

在高速互聯(lián)鏈路中,發(fā)送器的參考工作時(shí)鐘的抖動(dòng)是影響整個(gè)系統(tǒng)性能的關(guān)鍵因素之一。本文對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)的主要概念、測(cè)試方法及注意事項(xiàng)、測(cè)試難點(diǎn)進(jìn)行分析和探討。

高速互聯(lián)鏈路介紹

任何一個(gè)通信鏈路都包含三個(gè)部分:發(fā)送器(TX)、媒質(zhì)(信道)、接收器(RX)。對(duì)于高速的串行互聯(lián)鏈路也包含這三個(gè)部分,如下圖1所示為一個(gè)典型的高速互聯(lián)鏈路的結(jié)構(gòu)圖。其中發(fā)送器包括了:并行轉(zhuǎn)換串行、編碼(比如8b10b編碼)、發(fā)送信號(hào)優(yōu)化(如預(yù)加重)、發(fā)送驅(qū)動(dòng)等功能。接收器包括了:時(shí)鐘恢復(fù)、數(shù)據(jù)恢復(fù)、接收信號(hào)優(yōu)化(如均衡)、串行轉(zhuǎn)化并行、解碼等功能。傳輸通道則由印刷電路板的走線、過(guò)孔、連接器、插卡的金手指、電纜、光纖等組成。

從整個(gè)鏈路的組成來(lái)看,發(fā)送器參考時(shí)鐘的抖動(dòng)在串并轉(zhuǎn)換時(shí)就引入到整個(gè)鏈路中,影響著TX端發(fā)送出的數(shù)據(jù)的抖動(dòng),而接收器要從這些數(shù)據(jù)中恢復(fù)出時(shí)鐘來(lái)進(jìn)行后續(xù)的處理??梢钥闯霭l(fā)送器參考時(shí)鐘的性能對(duì)整個(gè)鏈路的性能起到很關(guān)鍵的作用。本文從時(shí)鐘抖動(dòng)的相關(guān)概念、測(cè)試實(shí)例、測(cè)試注意事項(xiàng)、測(cè)試難點(diǎn)幾方面對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試進(jìn)行分析和探討。

三種時(shí)鐘抖動(dòng)的定義,峰峰值與有效值

時(shí)鐘抖動(dòng)通常分為時(shí)間間隔誤差(Time Interval Error,簡(jiǎn)稱TIE),周期抖動(dòng)(Period Jitter)和相鄰周期抖動(dòng)(cycle to cycle jitter)三種抖動(dòng)。

圖2:TIE Jitter抖動(dòng)和TIE Jitter track
TIE又稱為phase jitter,是信號(hào)在電平轉(zhuǎn)換時(shí),其邊沿與理想時(shí)間位置的偏移量。理想時(shí)間位置可以從待測(cè)試時(shí)鐘中恢復(fù),或來(lái)自于其他參考時(shí)鐘。如圖2所示TIE抖動(dòng)的示意圖,I1、I2、I3、In-1、In是時(shí)鐘第一個(gè)到第n個(gè)上升沿與理想時(shí)間位置的偏差,將I1、I2到In進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計(jì),在所有樣本的找出最大值和最小值,兩者相減可以得到TIE抖動(dòng)的峰峰值,即:
假設(shè)N為測(cè)量的樣本總數(shù),抖動(dòng)的平均值可表示為:
抖動(dòng)的有效值(即RMS值)為所有樣本的1個(gè)Sigma值,即:
周期抖動(dòng)(Period Jitter)是多個(gè)周期內(nèi)對(duì)時(shí)鐘周期的變化進(jìn)行統(tǒng)計(jì)與測(cè)量的結(jié)果。如圖3所示的P1、P2、Pn-1、Pn為多個(gè)周期內(nèi)時(shí)鐘的周期數(shù)值,對(duì)這些數(shù)值進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計(jì),同理,與TIE抖動(dòng)的峰峰值和有效值計(jì)算方法相同,把P1到Pn中的最大值減去最小值,得到周期抖動(dòng)的峰峰值,把P1到Pn進(jìn)行1個(gè)Sigma運(yùn)算,得到周期抖動(dòng)的RMS值。

相鄰周期抖動(dòng)(Cycle to cycle jitter)是時(shí)鐘相鄰周期的周期差值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)與測(cè)量的結(jié)果。如圖4所示,后一時(shí)鐘周期減去前一時(shí)鐘后作為統(tǒng)計(jì)的樣本,C1=P2-P1, C2=P3-P2, Cn-1 = Pn - Pn-1,把C1到Cn-1進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計(jì),同理,可以計(jì)算出Cycle to cycle jitter的峰峰值和RMS值。

圖3:Period Jitter抖動(dòng)和Period Jitter track

圖4:Cycle to Cycle Jitter抖動(dòng)和Jitter track
在上述三種常見的時(shí)鐘抖動(dòng)中,對(duì)于串行總線,通常是測(cè)量TIE抖動(dòng),比如高速收發(fā)器TX端的參考時(shí)鐘。對(duì)于并行電路,通常是測(cè)量其時(shí)鐘的周期抖動(dòng)和相鄰周期抖動(dòng),比如DDR SDRAM、PC主板上的FSB等等。

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在圖2、圖3、圖4中的紅色曲線橫軸是時(shí)間,縱軸是對(duì)應(yīng)周期的抖動(dòng)數(shù)值,該曲線反映了抖動(dòng)隨時(shí)間變化的趨勢(shì),稱為抖動(dòng)跟蹤(Jitter track);將每個(gè)周期的抖動(dòng)值(比如TIE抖動(dòng)的I1、I2…In)作統(tǒng)計(jì)直方圖,可以得到抖動(dòng)直方圖(Jitter Histogram);將抖動(dòng)跟蹤做快速傅立葉變換(FFT)計(jì)算可以得到抖動(dòng)頻譜(Jitter Spectrum)。

抖動(dòng)跟蹤是抖動(dòng)在時(shí)域的表現(xiàn)形式,抖動(dòng)頻譜是抖動(dòng)在頻域的表現(xiàn)形式,抖動(dòng)直方圖是抖動(dòng)在統(tǒng)計(jì)域的表現(xiàn)形式。各種測(cè)試儀器和分析軟件對(duì)于抖動(dòng)的測(cè)量和分析都是在這三個(gè)域中實(shí)現(xiàn)的。

如下圖5為某100MHz時(shí)鐘在時(shí)域、頻域、統(tǒng)計(jì)域分析其TIE抖動(dòng)的示意圖。左上角的F2為某100MHz時(shí)鐘,P1是時(shí)鐘的TIE參數(shù)測(cè)量;右上角的F3是TIE抖動(dòng)的直方圖,直方圖不是高斯分布,可見時(shí)鐘存在固有抖動(dòng)。
 
圖5:時(shí)鐘抖動(dòng)在時(shí)域、頻譜、統(tǒng)計(jì)域的分析
左下角的F4為TIE track(即TIE抖動(dòng)隨時(shí)間變化的趨勢(shì)),從TIE Track中可以看到周期性的變化趨勢(shì);右下角的F5是F4的FFT運(yùn)算,即抖動(dòng)的頻譜,頻譜的峰值頻率為515kHz,說(shuō)明該時(shí)鐘的周期性抖動(dòng)(PJ)的主要來(lái)源為515kHz,找到頻點(diǎn)后,可以查找電路板上主頻或諧波為該頻率的芯片和PCB走線,進(jìn)一步調(diào)試與分析。

時(shí)鐘抖動(dòng)的分解

時(shí)鐘抖動(dòng)的峰峰值和RMS值僅反映了抖動(dòng)在統(tǒng)計(jì)上的數(shù)值,并沒(méi)有分析抖動(dòng)的來(lái)源。對(duì)于時(shí)鐘抖動(dòng)分解,業(yè)內(nèi)通常把抖動(dòng)分解為:總體抖動(dòng) (TJ)、確定性抖動(dòng)(DJ)、隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、周期性抖動(dòng)(PJ)、占空比失真(DCD)等等。如下圖6所示為各種抖動(dòng)的關(guān)系圖。

圖6:抖動(dòng)的分解示意圖
TJ及其各種成分,都是針對(duì)TIE的。如前文所說(shuō),TIE反映了被測(cè)時(shí)鐘與理想時(shí)鐘的偏差。TIE抖動(dòng)的峰峰值為隨著測(cè)試樣本數(shù)的增加不斷增大(隨機(jī)抖動(dòng)因素引起的),TJ是和誤碼率聯(lián)系起來(lái)的,通常誤碼率為10E-12,即通常所說(shuō)的TJ是10的12次方個(gè)樣本的TIE抖動(dòng)的峰峰值。TJ包括了RJ和DJ,而DJ包括了PJ、DCD、BUJ(其它有界的數(shù)據(jù)不相關(guān)性抖動(dòng))。對(duì)于單邊沿來(lái)同步與定時(shí)的時(shí)鐘,DCD不算做抖動(dòng)(當(dāng)然,絕大多數(shù)時(shí)鐘都只用其上升沿)。

RJ會(huì)隨著樣本數(shù)的增多不斷增大,其直方圖滿足高斯分布,通常用其統(tǒng)計(jì)后的1個(gè)Sigma或RMS值來(lái)表示,在抖動(dòng)測(cè)試儀器中得到的RJ通常為RMS值。隨機(jī)抖動(dòng)的來(lái)源為熱噪聲、Shot Noise和Flick Noise,與電子器件和半導(dǎo)體器件的電子和空穴特性有關(guān),比如ECL工藝的PLL比TTL和CMOS工藝的PLL有更小的隨機(jī)抖動(dòng)。

DJ是有邊界的、確定性的抖動(dòng),來(lái)源為:開關(guān)電源噪聲、串?dāng)_、電磁干擾等等,與電路的設(shè)計(jì)有關(guān),可以通過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì)來(lái)改善,比如選擇合適的電源濾波方案、合理的PCB布局和布線。

在抖動(dòng)頻譜中,RJ是頻譜的基底部分,而DJ是抖動(dòng)頻譜中的尖峰部分。很多測(cè)試儀器都是從抖動(dòng)頻譜來(lái)分解抖動(dòng)的。

時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試注意事項(xiàng)

在時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試中,有以下要點(diǎn):

1, 選擇合適帶寬:為了準(zhǔn)確測(cè)量到時(shí)鐘的邊沿,通常,示波器的帶寬在時(shí)鐘頻率的5倍以上,對(duì)于某些邊沿很快的時(shí)鐘,甚至需要儀器帶寬大于10倍時(shí)鐘主頻。

2, 選擇合適測(cè)試點(diǎn):由于時(shí)鐘鏈路可能使用了各種端接策略或者星形拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),在發(fā)送端探測(cè)時(shí)鐘可能沒(méi)有太大的參考意義,通常是在時(shí)鐘鏈路的靠近接收端處探測(cè)和分析。

3, 保證地線盡量短:探頭的地線較長(zhǎng)時(shí),引入的寄生電感可能導(dǎo)致測(cè)量到的波形失真,較長(zhǎng)的地線構(gòu)成的信號(hào)環(huán)路也更容易受到電磁干擾。

4, 信號(hào)幅度盡量占滿整個(gè)屏幕:示波器的ADC只有8個(gè)比特的分辨率,必須讓信號(hào)幅度盡量占滿示波器的整個(gè)屏幕才可以保證足夠的測(cè)試精度。

5, 固定到合適的采樣率:使用合適的采樣率,保證在時(shí)鐘的邊沿采集到足夠的采樣點(diǎn)。

6, 抓取足夠的時(shí)鐘周期:對(duì)于有較低頻率的PJ的時(shí)鐘,需要捕獲足夠長(zhǎng)的時(shí)間才能找到該時(shí)鐘的抖動(dòng)來(lái)源。

時(shí)鐘抖動(dòng)評(píng)估中的難點(diǎn)
在目前通信設(shè)備的時(shí)鐘的測(cè)試分析中,存在的問(wèn)題為:芯片、設(shè)備、測(cè)試儀器廠商對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo)的含義定義不一致。比如有的芯片廠商直接給出抖動(dòng)的pk-pk值,而沒(méi)有指明是那種抖動(dòng)要求。芯片廠商給出的名稱與測(cè)試儀器廠商的名稱一致,但實(shí)際描述的含義卻不一致。

有的芯片廠商對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)指標(biāo)要求不嚴(yán)謹(jǐn);有的芯片廠商給出的時(shí)鐘抖動(dòng)的指標(biāo)要求比較隨意,指標(biāo)的給出沒(méi)有相應(yīng)的根據(jù)。這些原因在于近十年來(lái)電子產(chǎn)品的運(yùn)行速度和時(shí)鐘頻率不斷增加,而抖動(dòng)的知識(shí)也在不斷完善與理論化,而某些芯片廠商的文檔對(duì)于抖動(dòng)的定義不規(guī)范,給時(shí)鐘性能的評(píng)估帶來(lái)一定的困難,這些需要各自的積累來(lái)進(jìn)行評(píng)估。

結(jié)語(yǔ)

高速鏈路是各電子設(shè)備以后重要的組成部分,其設(shè)計(jì)、性能分析和評(píng)估都是熱門的話題。本文僅對(duì)時(shí)鐘抖動(dòng)的基本概念和測(cè)試進(jìn)行相關(guān)的探討,而抖動(dòng)各成分的分離技術(shù)、時(shí)鐘抖動(dòng)在時(shí)域和頻域表現(xiàn)及他們的關(guān)系、抖動(dòng)的來(lái)源、抖動(dòng)的改善、抖動(dòng)在不同應(yīng)用場(chǎng)景下對(duì)系統(tǒng)的影響都是電路設(shè)計(jì)與測(cè)試工程師需要深入研究的內(nèi)容。

參考文獻(xiàn)
1, 《jitter slides》----力科
2, 《Jitter, Noise, and Signal Integrity at High-Speed》---Mike Peng Li
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