積分噪聲值由噪聲譜密度函數(shù)的積分導出。然而，用函數(shù)表示任何一條曲線并將其積分非常復雜。將測量曲線分割成小部分更容易。如果每部分的頻差 f_n+1 – f_n 趨于0，則所有貢獻之和等于函數(shù)的積分。

 

 

在實際測量中，實現(xiàn) f_n+1 – f_n 的零頻差是不可能的，但有可能使其接近于零。噪聲譜密度測量有多個點，使我們能夠獲得較好精度的積分噪聲和檢測振蕩峰。在我們的例子中，我們有6,400點在10赫茲至100千赫的頻率范圍內。噪聲譜密度曲線由6,399個區(qū)間插值，表示為 V_NOISE,AVG,n 。

 

 

 

 

下圖顯示 NCP110 LDO 穩(wěn)壓器的噪聲譜密度。如果我們將 NCP110 LDO 穩(wěn)壓器的測量值插入到最后的方程中，我們將得到積分噪聲的結果，如下表所示。雖然噪聲譜密度曲線由于 C_OUT 值較高而移動到一個較低的頻率，但積分噪聲增加。為什么會這樣呢？如下圖所示，您可看到這是因為與 I_OUT 和 C_OUT 相關的峰值移動到 10 Hz 至 100 kHz 的范圍內，在此范圍內計算積分噪聲。

 

 

為什么不選一些輸出電容值高的 LDO？如您所見，在輸出電容值升高，輸出電流降低時，與輸出電流和輸出電容有關的峰值，會上升并移動到有用的頻率范圍 10 Hz 至 100 kHz。

 

高輸出電容值，例如 10 uF，改善瞬態(tài)響應。更好的瞬態(tài)響應可能是使用高輸出電容值的一個原因。在本例中，NCP110 在使用較高的輸出電容值時具有振鈴 (超過一個下沖) 和較長的對瞬態(tài)事件的穩(wěn)定時間，但它仍然穩(wěn)定。振鈴使峰值增大，積分噪聲也增加，如下表所示。NCP110 LDO 穩(wěn)壓器是為 1 uF 較低的輸出電容值而設計，附加電容改善了系統(tǒng)的瞬態(tài)響應，但影響了系統(tǒng)的噪聲性能。

 

 

積分噪聲是一種表示 LDO 在特定頻率范圍內產生多少噪聲的方法。了解如何測量這種噪聲和系統(tǒng)級設計選擇的影響在設計干凈的電源時很重要。請繼續(xù)關注下一篇關于電源抑制比 (PSRR) 的文章，我們將談談如何測量及對系統(tǒng)級設計的影響。同時，請查看我們的 NCP110 數(shù)據(jù)表，以了解有關本主題的更多信息。

 

 

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